Contribution à l'étude expérimentale et à la simulation de la diffusion anormale du Bore dans le Silicium

Ce travail de thèse est consacré à l'étude de la diffusion accélérée et transitoire (TED) du bore dans le silicium. Cette diffusion est considérée comme un problème majeur pour la fabrication des jonctions ultra minces. En effet, la miniaturisation incessante des transistors MOS impose, pour le...

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Bibliographic Details
Main Author: LAMRANI, Younes
Language:FRE
Published: Université Paul Sabatier - Toulouse III 2005
Subjects:
Online Access:http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00009567
http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/04/81/68/PDF/tel-00009567.pdf