Microscopie de photodétachement de Si- et OH-. Spectroscopie microeV par imagerie de fonction d'onde pour un test de validité du modèle de l'électron libre
Le microscope de photodétachement, construit au laboratoire Aimé Cotton au milieu des années 90, permet de visualiser les images d'interférences obtenues à partir d'électrons détachés d'ions négatifs par excitation laser, en présence d'un champ électrique uniforme. Après détachem...
| Main Author: | |
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| Language: | FRE |
| Published: |
Université Paris Sud - Paris XI
2003
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| Subjects: | |
| Online Access: | http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00004059 http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/04/58/70/PDF/tel-00004059.pdf |