Méthodologie de conception AMS/RF pour la fiabilité : conception d'un frontal RF fiabilisé
Le développement des technologies CMOS à l'échelle nanométrique a fait émerger de nombreux défis sur le rendement et la fiabilité des composants. Les prochaines générations de circuits AMS et RF souffriront d'une augmentation du taux de défaillance durant le temps d'opération. Dans ce...
| Main Author: | |
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| Language: | ENG |
| Published: |
Télécom ParisTech
2011
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| Subjects: | |
| Online Access: | http://pastel.archives-ouvertes.fr/pastel-00628802 http://pastel.archives-ouvertes.fr/docs/00/62/88/02/PDF/Pietro_Maris_Ferreira_PhDThesis_final_version.pdf |