Nanoindentación basada en espectroscopia de fuerzas con un microscopio de fuerza atómica
Se presenta la implementación de un método para indentar superficies rígidas a nanoescala utilizando un microscopio de fuerza atómica (Atomic Force Mi-croscopy–AFM). Esta se basa en el modo de espectroscopia de fuerzas (Force Spectroscopy–FS) que usualmente se encuentra disponible en los AFM, la cu...
| Main Author: | |
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| Format: | Article |
| Language: | English |
| Published: |
Universidad EAFIT
2008-12-01
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| Series: | Ingeniería y Ciencia |
| Subjects: | |
| Online Access: | http://publicaciones.eafit.edu.co/index.php/ingciencia/article/view/216 |