MEDIDAS DE TRANSMITANCIA ESPECTRAL SIN LA PRESENCIA DE FRANJAS DE INTERFERENCIA: UN MODELO PARA LA OBTENCIÓN DE LAS CONSTANTES ÓPTICAS EN PELÍCULAS DELGADAS SEMICONDUCTORAS

MEDIDAS DE TRANSMITANCIA ESPECTRAL SIN LA PRESENCIA DE FRANJAS DE INTERFERENCIA: UN MODELO PARA LA OBTENCIÓN DE LAS CONSTANTES ÓPTICAS EN PELÍCULAS DELGADAS SEMICONDUCTORAS

En este trabajo presentamos un modelo para la obtención de las constantes ópticas de películas delgadas semiconductoras cuando no es posible observar franjas de interferencia en los espectros. La obtención de las constantes ópticas como el coeficiente de absorción (α), el índice de refracción (n), c...

Full description

Bibliographic Details
Main Authors: Heiddy Paola Quiroz Gaitán, Sandra Marcela López Ospina, Jorge Arturo Calderón Cómbita, Anderon Dussán Cuenca
Format: Article
Language:English
Published: Universidad EIA
Series:Revista EIA
Subjects:
Thin Films
Optics Properties
Semiconductors
Online Access:http://www.scielo.org.co/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S1794-12372014000300007&lng=en&tlng=en

Internet

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