Klem Aktif Tunggal Interleaved flyback dengan Kombinasi N-MOSFET dan P-MOSFET
<p>Penggunaan topologi interleaved <em>flyback</em> dengan menyusun dua atau lebih rangkaian <em>flyback</em> dapat mengakibatkan peningkatan dampak tegangan kejut. Dengan meningkatnya dampak tegangan kejut akan berakibat meningkatnya pula resiko kerusakan sistem akibat...
Main Authors: | , , |
---|---|
Format: | Article |
Language: | Indonesian |
Published: |
Sekolah Tinggi Manajemen Informatika dan Komputer (STMIK) AMIKOM Purwokerto
2018-02-01
|
Series: | Telematika |
Subjects: | |
Online Access: | http://ejournal.amikompurwokerto.ac.id/index.php/telematika/article/view/599 |