Analyse unterschiedlicher Modellierungsvarianten des "Direct Power Injection" Verfahrens für die EMV Charakterisierung integrierter Schaltungen
Dieser Beitrag analysiert zwei Ansätze zur Modellierung eines Teststandes zur Charakterisierung von integrierten Schaltungen mittels Direct Power Injection (DPI) auf einem Wafer. Die erste Variante ist zur Analyse bereits vorliegender integrierter Schaltungen nutzbar. Sie benötigt gemessene S-Parame...
| Main Authors: | , , , |
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| Format: | Article |
| Language: | deu |
| Published: |
Copernicus Publications
2009-05-01
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| Series: | Advances in Radio Science |
| Online Access: | http://www.adv-radio-sci.net/7/127/2009/ars-7-127-2009.pdf |