Дослідження причин і механізмів дефектів паяних з'єднань у задачах підвищення надійності бортової радіоелектроніки

<span lang="uk">Наведені результати досліджень якості паяних з'єднань на фізико-хімічному рівні, а також впливу умов і режимів технологічних процесів паяння на структуру припою на поверхні друкованих плат. Вивчена залежність характеру зернистості структури </span><span...

Full description

Bibliographic Details
Main Authors: В. В. Зубарев, Т. И. Лавренова, С. В. Ленков, А. Н. Перегудов
Format: Article
Language:English
Published: National Aviation University 1999-05-01
Series:Vìsnik Nacìonalʹnogo Avìacìjnogo Unìversitetu
Online Access:http://jrnl.nau.edu.ua/index.php/visnik/article/view/9316