Прогнозування надійності дискретних пристроїв на основі моделювання процесу деградації матеріалу
В статті проведено дослідження причин деградації мікросхем, що виготовлені з напівпровідників для забезпечення надійності дискретних пристроїв комп’ютерних систем. Описано алгоритм прогнозування надійності дискретних пристроїв та наведено структуру інтелектуальної підсистеми прогнозування надійності...
| Main Author: | |
|---|---|
| Format: | Article |
| Language: | English |
| Published: |
PC Technology Center
2015-01-01
|
| Series: | Tehnologìčnij Audit ta Rezervi Virobnictva |
| Subjects: | |
| Online Access: | http://journals.uran.ua/tarp/article/view/37697 |