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  1. 1
    Analyse des contraintes mécaniques et de la résistivité des interconnexions de cuivre des circuits intégrés : rôle de la microstructure et du confinement géométrique
    by Vayrette, Renaud
    Published 2011
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  2. 2
    Analyse des contraintes mecaniques et de la resistivite des interconnexions de cuivre des circuits integres : role de la microstructure et du confinement geometrique
    by Vayrette, Renaud
    Published 2011
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  3. 3
    Multiscale modelling framework for the fracture of thin brittle polycrystalline films: application to polysilicon
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