Detailed characterization of electron sources yielding first demonstration of European X-ray Free-Electron Laser beam quality

by F. Stephan, C. H. Boulware, M. Krasilnikov, J. Bähr, G. Asova, A. Donat, U. Gensch, H. J. Grabosch, M. Hänel, L. Hakobyan, H. Henschel, Y. Ivanisenko, L. Jachmann, S. Khodyachykh, M. Khojoyan, W. Köhler, S. Korepanov, G. Koss, A. Kretzschmann, H. Leich, H. Lüdecke, A. Meissner, A. Oppelt, B. Petrosyan, M. Pohl, S. Riemann, S. Rimjaem, M. Sachwitz, B. Schöneich, T. Scholz, H. Schulze, J. Schultze, U. Schwendicke, A. Shapovalov, R. Spesyvtsev, L. Staykov, F. Tonisch, T. Walter, S. Weisse, R. Wenndorff, M. Winde, L. v. Vu, H. Dürr, T. Kamps, D. Richter, M. Sperling, R. Ovsyannikov, A. Vollmer, J. Knobloch, E. Jaeschke, J. Boster, R. Brinkmann, S. Choroba, K. Flechsenhar, K. Flöttmann, W. Gerdau, V. Katalev, W. Koprek, S. Lederer, C. Martens, P. Pucyk, S. Schreiber, S. Simrock, E. Vogel, V. Vogel, K. Rosbach, I. Bonev, I. Tsakov, P. Michelato, L. Monaco, C. Pagani, D. Sertore, T. Garvey, I. Will, I. Templin, W. Sandner, W. Ackermann, E. Arévalo, E. Gjonaj, W. F. O. Müller, S. Schnepp, T. Weiland, F. Wolfheimer, J. Rönsch, J. Rossbach
Published 2010-02-01