Estudo de monocristais de silicio czochralski pelos metodos: pseudo kossel e espalhamento difuso de raios x
A determinação do estado de deformação de monocristais planos através da técnica pseudo-Kossel, combinada com o estudo do espalhamento difuso de raios X próximo a uma reflexão de Bragg, permite uma caracterização dos defeitos quanto a sua natureza, tamanho e simetria se houver poucas variedades de d...
Main Author: | Soares, Demetrio Artur Werner |
---|---|
Other Authors: | Amaral, Lia Queiroz do |
Format: | Others |
Language: | pt |
Published: |
Biblioteca Digitais de Teses e Dissertações da USP
1988
|
Subjects: | |
Online Access: | http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43133/tde-14062012-165956/ |
Similar Items
-
Estudo de monocristais de silicio czochralski pelos metodos: pseudo kossel e espalhamento difuso de raios x
by: Demetrio Artur Werner Soares
Published: (1988) -
Der Einfluß von Kristallfehlern auf Kossel- und Weitwinkel-Interferenzen
by: Langer, Enrico
Published: (2005) -
Investigation of mechanisms of the crystal growth process (Kossel model)
by: Sergey Artemev
Published: (2018-01-01) -
Optical Kossel Lines and Fluorescence in Photonic Liquid Crystals
by: Vladimir A. Belyakov
Published: (2020-06-01) -
Development of the x-ray standing waves methodology to probe the interfaces of periodic multilayers
by: Wu, Meiyi
Published: (2018)