Estudo de monocristais de silicio czochralski pelos metodos: pseudo kossel e espalhamento difuso de raios x

A determinação do estado de deformação de monocristais planos através da técnica pseudo-Kossel, combinada com o estudo do espalhamento difuso de raios X próximo a uma reflexão de Bragg, permite uma caracterização dos defeitos quanto a sua natureza, tamanho e simetria se houver poucas variedades de d...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Soares, Demetrio Artur Werner
Other Authors: Amaral, Lia Queiroz do
Format: Others
Language:pt
Published: Biblioteca Digitais de Teses e Dissertações da USP 1988
Subjects:
Online Access:http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43133/tde-14062012-165956/

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