Estudo sobre distribuição de cargas em semicondutores sujeitos a radiação ionizante

Estudo sobre distribuição de cargas em semicondutores sujeitos a radiação ionizante

Os efeitos da radiação ionizante em dispositivos eletrônicos é uma preocupação crescente na tecnologia de semicondutores, especialmente devido à contínua redução dos dispositivos e ainda maior, quando são destinados para uso em ambientes agressivos com alta radiação, tais como missões espaciais, ace...

Full description

Bibliographic Details
Main Author:	Aguirre, Fernando Rodrigues
Other Authors:	Tabacniks, Manfredo Harri
Format:	Others
Language:	pt
Published:	Biblioteca Digitais de Teses e Dissertações da USP 2017
Subjects:	Bipolar Junction Transistor Dose Dose Acumulada Radiação Radiation Semiconductor Semicondutor Single Event Effect Total Irradiation Dose Transistor Bipolar
Online Access:	http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-13032017-113040/

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