Estimação não-paramétrica da taxa de falha acumulada de um processo pontual

• Main Author: Mendes, Fabrizio Teixeira
• Other Authors: Pinto Junior, Dorival Leão
• Format: Others
• Language: pt
• Published: Biblioteca Digitais de Teses e Dissertações da USP 2003
• Subjects: Não disponível; Not available
• Online Access: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/55/55134/tde-10112014-164502/

Vários autores tem construído estimadores de Bayes nâo-paramétricos para a função de distribuição acumulada. A distribuição à priori tem, por exemplo, sido processos de Dirichlet, processos neutral to the right. Neste trabalho nós estudamos o problema de achar estimadores de Bayes nâo-paramétricos para a taxa de falha acumulada de um processo pontuai baseado no modelo de intensidade multiplicativo de Aalen. Desta forma nós consideramos uma classe conjugada de processos de Levy chamados de processos beta e apresentamos fórmulas para obter um processo posterior. 0 estimador de Bayes é comparado com dois outros estimadores não-paramétricos, Kaplan-Meier e Nelson-Aalen e um estimador paramétrico, a taxa de falha acumulada de uma distribuição Weibull. === Several authors have constructed nonparametric Bayes estimators for a cumulative distribution function. The prior distribution have, for example, been Dirichlet processes, neutra] to the right processes. In this work we studied the problem of finding nonparametric Bayes estimator to cumulative rate function of the a point processes based in the Aalen\'s multiplicative intensity model. This form we considered a conjugate class of Levy processes called beta processes and presented formulas for obtaining a posterior processes. The Bayes estimator is compared with two nonparametric estimator, Kaplan-Meier and Nelson-Aalen and one pararnetric estimator, the cumulative rate function of the Weibull distribution.