Sistema para medição de erro de planicidade
A acuracidade dos processos de medição e de montagem que utilizam os desempenos como referência depende principalmente da planicidade dessas superfícies. Se a referência está fora das especificações é inútil utilizar instrumentos sofisticados e de alta acuracidade. Neste trabalho é apresentado um si...
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Biblioteca Digitais de Teses e Dissertações da USP
2006
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ndltd-usp.br-oai-teses.usp.br-tde-04102006-1514482019-05-09T17:58:49Z Sistema para medição de erro de planicidade Flatness measurement system Magalhães, Rita de Cássia Alves de desvio de planicidade dimensional metrology error separation technique flatness metrologia dimensional técnicas de separação de erros A acuracidade dos processos de medição e de montagem que utilizam os desempenos como referência depende principalmente da planicidade dessas superfícies. Se a referência está fora das especificações é inútil utilizar instrumentos sofisticados e de alta acuracidade. Neste trabalho é apresentado um sistema para medição de desvios de planicidade de desempenos. O sistema é constituído por dois transdutores de deslocamento do tipo LVDT fixados no eixo z de uma máquina de medir a três coordenadas (MM3C). Durante a medição a intenção é avaliar apenas os desvios da superfície, no entanto os mancais das MM3C não se deslocam perfeitamente e as leituras obtidas são as componentes dos desvios da superfície e do movimento dos mancais. Para eliminar os componentes de erros da máquina dos dados medidos, pode-se usar as técnicas de separação de erros, e então, o desvio da superfície pode ser determinado. O sistema de medição proposto possui uma interface eletrônica que possibilita a aquisição dos sinais da régua óptica da MM3C e dos transdutores de deslocamento do tipo LVDT. Possui, também, um programa computacional que utiliza as técnicas de separação de erros para determinar o desvio de planicidade do mensurando. O sistema desenvolvido foi utilizado para medir o desvio de planicidade de uma superfície. Para verificar a eficiência do mesmo foi realizada uma comparação entre os valores de erro de planicidade obtidos através de medição com o sistema proposto e aqueles obtidos com interferômetro a laser e nível eletrônico. The accuracy of measurement and assembly process using surface plates depends mainly on these surfaces flatness. If the surface plate does not meet the flatness specification, it is ineffective to apply high technology instruments of measurement. This research proposes is to develop a flatness measurement system for surface plates using two electronic comparators attached to the coordinate measuring machine (CMM). During a measurement process, the purpose is to evaluate the workpiece profile. However, the signals picked up by sensors include the workpiece profile and component motion error. In order to separate these errors, error separation techniques can be applied. The proposed measurement system has an electronic interface to collect data from the CMM optical scale and from the electronic comparators. The collected data are sent to a computer prepared with an algorithm for applying the error separation equations and for compute the flatness error. A surface was measured using the proposed measurement system. To evaluate its efficiency, the results were compared to the measurements made using electronic level and laser interferometric system. Biblioteca Digitais de Teses e Dissertações da USP Giacomo, Benedito di 2006-06-02 Dissertação de Mestrado application/pdf http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/18/18135/tde-04102006-151448/ pt Liberar o conteúdo para acesso público. |
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A acuracidade dos processos de medição e de montagem que utilizam os desempenos como referência depende principalmente da planicidade dessas superfícies. Se a referência está fora das especificações é inútil utilizar instrumentos sofisticados e de alta acuracidade. Neste trabalho é apresentado um sistema para medição de desvios de planicidade de desempenos. O sistema é constituído por dois transdutores de deslocamento do tipo LVDT fixados no eixo z de uma máquina de medir a três coordenadas (MM3C). Durante a medição a intenção é avaliar apenas os desvios da superfície, no entanto os mancais das MM3C não se deslocam perfeitamente e as leituras obtidas são as componentes dos desvios da superfície e do movimento dos mancais. Para eliminar os componentes de erros da máquina dos dados medidos, pode-se usar as técnicas de separação de erros, e então, o desvio da superfície pode ser determinado. O sistema de medição proposto possui uma interface eletrônica que possibilita a aquisição dos sinais da régua óptica da MM3C e dos transdutores de deslocamento do tipo LVDT. Possui, também, um programa computacional que utiliza as técnicas de separação de erros para determinar o desvio de planicidade do mensurando. O sistema desenvolvido foi utilizado para medir o desvio de planicidade de uma superfície. Para verificar a eficiência do mesmo foi realizada uma comparação entre os valores de erro de planicidade obtidos através de medição com o sistema proposto e aqueles obtidos com interferômetro a laser e nível eletrônico. === The accuracy of measurement and assembly process using surface plates depends mainly on these surfaces flatness. If the surface plate does not meet the flatness specification, it is ineffective to apply high technology instruments of measurement. This research proposes is to develop a flatness measurement system for surface plates using two electronic comparators attached to the coordinate measuring machine (CMM). During a measurement process, the purpose is to evaluate the workpiece profile. However, the signals picked up by sensors include the workpiece profile and component motion error. In order to separate these errors, error separation techniques can be applied. The proposed measurement system has an electronic interface to collect data from the CMM optical scale and from the electronic comparators. The collected data are sent to a computer prepared with an algorithm for applying the error separation equations and for compute the flatness error. A surface was measured using the proposed measurement system. To evaluate its efficiency, the results were compared to the measurements made using electronic level and laser interferometric system. |
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