Conception d’un procédé de microfabrication pour l’assemblage 3D puce-à-puce de circuits intégrés hétérogènes à des fins de prototypage
L’utilisation de photodiodes avalanche monophotoniques (PAMP) pour une utilisation au sein d’imageur préclinique par tomographie d’émission par positrons est d’intérêt. En effet, l’utilisation de ces photodétecteurs intégrés au CMOS est poussée par leurs excellentes performances de résolution en...
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Université de Sherbrooke
2018
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ndltd-usherbrooke.ca-oai-savoirs.usherbrooke.ca-11143-119112018-03-15T05:17:33Z Conception d’un procédé de microfabrication pour l’assemblage 3D puce-à-puce de circuits intégrés hétérogènes à des fins de prototypage Maurais, Luc Pratte, Jean-François Charlebois, Serge Photodétecteurs Tomographie d’émission par positrons Photodiode avalanche monophotonique Matrice de PAMP Intégration 3D Assemblage puce-à-puce Through silicon via Microfabrication L’utilisation de photodiodes avalanche monophotoniques (PAMP) pour une utilisation au sein d’imageur préclinique par tomographie d’émission par positrons est d’intérêt. En effet, l’utilisation de ces photodétecteurs intégrés au CMOS est poussée par leurs excellentes performances de résolution en temps ainsi que leur haute sensibilité. Cependant, l’utilisation de ces détecteurs nécessite également un circuit intégré de contrôle visant à protéger les photodiodes de courants trop élevés lors de déclenchement d’avalanches et de contrôler leurs temps mort. Ces circuits de plus en plus sophistiqués nécessitent un espace significatif diminuant ainsi la surface photosensible à la surface de la puce et diminuant leurs sensibilités. L’assemblage 3D puce-à-puce est donc nécessaire dans le but d’augmenter la surface photosensible et de ne pas limiter les fonctionnalités de contrôles électroniques individuelles à chaque PAMP. Ce document présente le développement d’un procédé d’assemblage 3D puce-à-puce visant l’intégration de matrices de PAMP. Les étapes de microfabrication nécessaires visent l’intégration d’interconnexions verticales au travers du substrat (TSV) permettant de transmettre les signaux d’une couche à l’autre et le collage 3D de ceux-ci. De plus, des mesures de caractéristiques de bruits ont été effectuées sur des puces ayant subi certaines étapes de microfabrication du procédé d’assemblage 3D. Ces mesures ont été effectuées dans le but de déterminer l’impact potentiel du procédé d’assemblage sur les performances des PAMP intégrés en 3D. 2018 Mémoire http://hdl.handle.net/11143/11911 fre © Luc Maurais Université de Sherbrooke |
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Photodétecteurs Tomographie d’émission par positrons Photodiode avalanche monophotonique Matrice de PAMP Intégration 3D Assemblage puce-à-puce Through silicon via Microfabrication Maurais, Luc Conception d’un procédé de microfabrication pour l’assemblage 3D puce-à-puce de circuits intégrés hétérogènes à des fins de prototypage |
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L’utilisation de photodiodes avalanche monophotoniques (PAMP) pour une utilisation au
sein d’imageur préclinique par tomographie d’émission par positrons est d’intérêt. En effet,
l’utilisation de ces photodétecteurs intégrés au CMOS est poussée par leurs excellentes
performances de résolution en temps ainsi que leur haute sensibilité. Cependant, l’utilisation
de ces détecteurs nécessite également un circuit intégré de contrôle visant à protéger
les photodiodes de courants trop élevés lors de déclenchement d’avalanches et de contrôler
leurs temps mort. Ces circuits de plus en plus sophistiqués nécessitent un espace significatif
diminuant ainsi la surface photosensible à la surface de la puce et diminuant leurs
sensibilités. L’assemblage 3D puce-à-puce est donc nécessaire dans le but d’augmenter la
surface photosensible et de ne pas limiter les fonctionnalités de contrôles électroniques
individuelles à chaque PAMP.
Ce document présente le développement d’un procédé d’assemblage 3D puce-à-puce visant
l’intégration de matrices de PAMP. Les étapes de microfabrication nécessaires visent l’intégration
d’interconnexions verticales au travers du substrat (TSV) permettant de transmettre
les signaux d’une couche à l’autre et le collage 3D de ceux-ci. De plus, des mesures
de caractéristiques de bruits ont été effectuées sur des puces ayant subi certaines étapes
de microfabrication du procédé d’assemblage 3D. Ces mesures ont été effectuées dans le
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