Electrical characterization of conductive ion tracks in tetrahedral amorphous carbon with copper impurities

• Main Author: Gehrke, Hans-Gregor
• Other Authors: Hofsäss, Hans Prof. Dr.
• Format: Doctoral Thesis
• Language: English
• Published: 2014
• Subjects: 530; Physik (PPN621336750); tetraedrisch amorphenr Kohlenstoff; diamantartiger Kohlenstoff; Ionenspur; Schwerionen; Leitfähige Ionenspur; Leitfähigkeit amorpher Kohlenstoff; tetrahedral amorphous carbon; diamond-like carbon; swift heavy ion track; ion track; conductive ion track; variable range hopping; Frenkel Poole; conductivity amorphous carbon
• Online Access: http://hdl.handle.net/11858/00-1735-0000-0022-5DF0-A; http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:gbv:7-11858/00-1735-0000-0022-5DF0-A-4

Die Bestrahlung von tetraedrisch amorphen Kohlenstoff (ta-C) mit schnellen schweren Ionen führt zur Bildung von mikroskopischen elektrisch leitfähigen Ionenspuren mit Durchmessern um 10 nm. Dieses Phänomen ist auf das sp² zu sp³ Hybridisierungsverhältnis des amorphen Kohlenstoffes zurückzuführen. Das einschlagende Ion deponiert eine große Menge Energie innerhalb des Spurvolumens, so dass eine Materialtransformation hin zu höheren sp² Hybridisierung stattfindet. Hierdurch wird die elektrische Leitfähigkeit der Ionenspur stark erhöht. Dieser Effekt kann durch die Zugabe von Verunreinigungen wie Kupfer verstärkt werden. Das Ziel dieser Arbeit ist die umfassende Analyse des elektrischen Verhaltens von ta-C mit besonderen Augenmerk auf die Auswirkungen von Kupferverunreinigungen und Ionenspuren. Der Effekt von Kupferverunreinigungen auf das wichtige Hybridisierungsverhältnis vom amorphen Kohlenstoff wird vermessen. Darüber hinaus wurden alle Proben elektrisch mit makroskopischen Kontakten im Temperaturbeireich von 20 K bis 380 K analysiert. Mikroskopisch wurden einzelne leitfähige Ionenspuren mit Hilfe von atomarer Kraftmikroskopie betrachtet. Die statistische Verteilung der Spureigenschaften in Kohlenstofffilmen mit verschiedenen Kupferkonzentrationen werden verglichen, um die Spurbildung besser zu verstehen. Die normalisierten durchschnittlichen Spurleitfähigkeiten aus mikroskopischen und makroskopischen Messungen werden verglichen. Hierbei kann die Zuverlässigkeit der beiden experimentellen Methoden bewertet werden und mögliche Fehlerquellen ausfindig gemacht werden. Schließlich wird ein Konzept für eine Anwendung unterbrochener Ionenspuren gezeigt.