Étude de phase des systèmes Ni/Si-endommagé et Ni/a-Si, par XRD résolue en temps et nanocalorimétrie

Mémoire numérisé par la Division de la gestion de documents et des archives de l'Université de Montréal.

Bibliographic Details
Main Author: Guihard, Matthieu
Other Authors: Schiettekatte, François
Language:en
Published: 2012
Subjects:
Online Access:http://hdl.handle.net/1866/8045
Description
Summary:Mémoire numérisé par la Division de la gestion de documents et des archives de l'Université de Montréal.