Étude en dynamique moléculaire par approximation des liaisons fortes de l'influence des défauts ponctuels dans la relaxation du silicium amorphe
Mémoire numérisé par la Division de la gestion de documents et des archives de l'Université de Montréal.
Main Author: | Urli, Xavier |
---|---|
Other Authors: | Lewis, Laurent J. |
Language: | en |
Published: |
2012
|
Subjects: | |
Online Access: | http://hdl.handle.net/1866/8030 |
Similar Items
-
Étude en dynamique moléculaire par approximation des liaisons fortes de l'influence des défauts ponctuels dans la relaxation du silicium amorphe
by: Urli, Xavier
Published: (2012) -
É́tude sur la cinétique des défauts structuraux dans le silicium amorphe.
by: Joly, Jean-François
Published: (2013) -
É́tude sur la cinétique des défauts structuraux dans le silicium amorphe
by: Joly, Jean-François
Published: (2013) -
Etude théorique de défauts ponctuels et complexes dans les métaux : application au fer-cc et nickel-cfc
by: Kandaskalov, Dmytro
Published: (2013) -
Propriétés des défauts ponctuels natifs et induits par irradiation dans les polytypes 3C et 6H du carbure de silicium déterminées par annihilation de positons et RPE
by: Kerbiriou, Xavier
Published: (2006)