Effets de la concentration des défauts sur la surface d'énergie potentielle du silicium amorphe
Mémoire numérisé par la Division de la gestion de documents et des archives de l'Université de Montréal.
Main Author: | Kallel, Houssem |
---|---|
Other Authors: | Mousseau, Normand |
Language: | fr |
Published: |
2012
|
Subjects: | |
Online Access: | http://hdl.handle.net/1866/8027 |
Similar Items
-
Effets de la concentration des défauts sur la surface d'énergie potentielle du silicium amorphe
by: Kallel, Houssem
Published: (2012) -
Relaxation du silicium amorphe étudiée par nanocalorimétrie
by: Mercure, Jean-François
Published: (2017) -
É́tude sur la cinétique des défauts structuraux dans le silicium amorphe.
by: Joly, Jean-François
Published: (2013) -
É́tude sur la cinétique des défauts structuraux dans le silicium amorphe
by: Joly, Jean-François
Published: (2013) -
Mécanismes de recuit dans le silicium implanté par faisceau d’ion caractérisés par nanocalorimétrie
by: Anahory, Yonathan
Published: (2011)