Trafic intranucléaire de l’ARN de la télomérase et la réponse aux dommages à l’ADN chez la levure Saccharomyces cerevisiae

Les cassures double-brins d’ADN (CDBs) constituent une menace pour la viabilité cellulaire et l’intégrité du génome puisque l’absence de la réparation d’une CDB pourrait conduire à la mort cellulaire. En plus de la réparation par jonction d’extrémités nonhomologues (NHEJ) en phase G1 et de la recomb...

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Bibliographic Details
Main Author: Ouenzar, Faissal
Other Authors: Chartrand, Pascal
Language:fr
Published: 2017
Subjects:
Online Access:http://hdl.handle.net/1866/18299