Effets des recuits ultra-rapides (10^5 K/s) sur la formation des siliciures métalliques en phase solide
La synthèse de siliciures métalliques sous la forme de films ultra-minces demeure un enjeu majeur en technologie CMOS. Le contrôle du budget thermique, afin de limiter la diffusion des dopants, est essentiel. Des techniques de recuit ultra-rapide sont alors couramment utilisées. Dans ce contexte, la...
Main Author: | Guihard, Matthieu |
---|---|
Other Authors: | Schiettekatte, François |
Language: | fr |
Published: |
2016
|
Subjects: | |
Online Access: | http://hdl.handle.net/1866/13708 |
Similar Items
-
Relaxation et cristallisation du verre mou de chalcogénure Ge2Sb2Te5 après impact d’ions lourds à basse énergie
by: Nozard, Hantz
Published: (2019) -
Maximum Possible Cooling Rate in Ultrafast Chip Nanocalorimetry: Fundamental Limitations Due to Thermal Resistance at the Membrane/Gas Interface
by: Alexander A. Minakov, et al.
Published: (2021-09-01) -
Germanosiliciuration à base de Ni et d’alliage Ni1-xPtx pour le p-MOS 14 nm FDSOI
by: Bourjot, Emilie
Published: (2015) -
Signature calorimétrique de cohérence de phase quantique dans des anneaux mésoscopiques
by: Souche, Germain
Published: (2011) -
Synthèse de couches ultra-minces de siliciures sur silicium cristallin et
endommagé étudiée par microscopie et profilométrie en profondeur
by: Turcotte-Tremblay, Pierre
Published: (2010)