Zuverlässigkeitsstudien an Höchstfrequenzbauelementen mit gepulsten Techniken (TLP-Methode)

Zuverlässigkeitsstudien an Höchstfrequenzbauelementen mit gepulsten Techniken (TLP-Methode)

Diese Arbeit beschreibt die gezielte Anregung zuverlässigkeitsrelevanter Degradations- und Defektmechanismen bei III/V Höchstfrequenzbauelementen (InGaP/GaAs Heterostruktur Bipolartransistor, Pt/GaAs THz-Schottkydiode) unter Verwendung elektrischer Pulse (bekannt als Transmission Line Pulse, TLP-Met...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Mottet, Bastian
Format: Others
Language:German
de
Published: 2005
Online Access:https://tuprints.ulb.tu-darmstadt.de/532/1/dissertation_mottet.pdf
Mottet, Bastian <http://tuprints.ulb.tu-darmstadt.de/view/person/Mottet=3ABastian=3A=3A.html> (2005): Zuverlässigkeitsstudien an Höchstfrequenzbauelementen mit gepulsten Techniken (TLP-Methode).Darmstadt, Technische Universität, [Online-Edition: http://elib.tu-darmstadt.de/diss/000532 <http://elib.tu-darmstadt.de/diss/000532> <official_url>],[Ph.D. Thesis]

Internet

https://tuprints.ulb.tu-darmstadt.de/532/1/dissertation_mottet.pdf
Mottet, Bastian <http://tuprints.ulb.tu-darmstadt.de/view/person/Mottet=3ABastian=3A=3A.html> (2005): Zuverlässigkeitsstudien an Höchstfrequenzbauelementen mit gepulsten Techniken (TLP-Methode).Darmstadt, Technische Universität, [Online-Edition: http://elib.tu-darmstadt.de/diss/000532 <http://elib.tu-darmstadt.de/diss/000532> <official_url>],[Ph.D. Thesis]

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