Contribution à l'étude de l'adhérence des structures du type couche sur substrat par modes de Rayleigh générés et détectés par sources laser
La caractérisation non destructive de l’adhérence des structures du type couche sur substrat est un enjeu industriel et académique important. Ce type d’échantillon est en effet utilisé pour de nombreuses applications et sa durée de vie dépend en grande partie de la qualité d’adhérence des films au s...
Main Author: | Robin, Martin |
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Other Authors: | Valenciennes |
Language: | fr |
Published: |
2019
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Subjects: | |
Online Access: | http://www.theses.fr/2019VALE0015/document |
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