Backside absorbing layer microscopy : a new tool for the investigation of 2D materials
La microscopie optique sur substrats antireflets est un outil de caractérisation simple et puissant qui a notamment permis l'isolation du graphène en 2004. Depuis, le domaine d'étude des matériaux bidimensionnels (2D) s'est rapidement développé, tant au niveau fondamental qu'appl...
| Main Author: | |
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| Other Authors: | |
| Language: | en |
| Published: |
2019
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| Online Access: | http://www.theses.fr/2019SACLS296/document |