Application des faisceaux d'ions focalisés à la création de centres NV du diamant. Caractérisation de ces faisceaux d'ions issus d'une source plasma.

Depuis plus de 45 ans, les colonnes à faisceaux d'ions focalisés FIB à base de source à métal liquide (Ga) sont utilisées pour l'élaboration, la modification ou l'analyse de nanostructures. Beaucoup plus récemment, moins de 10 ans, les sources plasma sont intégrées dans les FIB afin d...

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Bibliographic Details
Main Author: Renaud, Justine
Other Authors: Université Paris-Saclay (ComUE)
Language:fr
Published: 2019
Subjects:
Online Access:http://www.theses.fr/2019SACLN027