Étude et modélisation des perturbations produites au sein des microcontrôleurs STM32 soumis à des stress en impulsion
La fiabilité des microcontrôleurs est cruciale compte tenu de leur utilisation massive dans de nombreux domaines, surtout dans des environnements sévères. De ce fait, la robustesse aux perturbations électromagnétiques, en particulier à propos des alimentations, est un axe de développement majeur, qu...
| Main Author: | |
|---|---|
| Other Authors: | |
| Language: | en |
| Published: |
2017
|
| Subjects: | |
| Online Access: | http://www.theses.fr/2017AZUR4021/document |