Développement d’une méthode de mesure du potentiel de surface par AFM pour composants électroniques en fonctionnement, application aux transistors organiques
Au cours de cette thèse, une technique de mesure du potentiel de surface par AFM (KPFM) a été développée et exploitée. Elle permet la caractérisation locale et quantitative de transistors organiques (OTFT) polarisés à plusieurs dizaines de volts, en condition ambiante. Cependant tout type de composa...
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| Language: | fr |
| Published: |
2016
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| Online Access: | http://www.theses.fr/2016REIMS014/document |