Approche statistique pour le pronostic de défaillance : application à l'industrie du semi-conducteur

Ce travail de thèse concerne le développement d'une méthode de pronostic de défaillance des systèmes de production en série. Une méthode de génération d'un indice de santé brut à partir d'un tenseur de données, appelée Méthode des Points Significatifs a été développée puis validée sur...

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Bibliographic Details
Main Author: Nguyen, Thi Bich Lien
Other Authors: Aix-Marseille
Language:fr
Published: 2016
Subjects:
Online Access:http://www.theses.fr/2016AIXM4310/document