Etude de l’impact de micro-cavités (voids) dans les attaches de puces des modules électroniques de puissance

Les convertisseurs électroniques de puissance sont voués à fonctionner sous des conditions applicatives de plus en plus sévères tout en respectant les impératifs d’efficacité énergétique et de fiabilité. Or, les besoins industriels tendent vers un plus haut niveau d’intégration fonctionnelle tout en...

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Bibliographic Details
Main Author: Tran, Son Ha
Other Authors: Université Paris-Saclay (ComUE)
Language:fr
Published: 2015
Subjects:
Online Access:http://www.theses.fr/2015SACLN010/document