Développement d’une plate-forme de microscopie champ proche hyperfréquence par interférométrie

La microscopie hyperfréquence en champ proche permet de vaincre le critère de Rayleigh grâce à une sonde locale qui alimentée par un signal micro-onde génère des ondes évanescentes confinées à son extrémité. Les limites de résolution ne sont alors plus fixées par la longueur d’onde des signaux hyper...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Bakli, Hind
Other Authors: Lille 1
Language:fr
Published: 2015
Subjects:
Online Access:http://www.theses.fr/2015LIL10007/document