Techniques de tolérance aux fautes : conception des circuits fiables dans les technologies avancées
En approchant leurs limites ultimes, les technologies de silicium sont affectées par divers problèmes qui rendent de plus en plus difficile la poursuite de la miniaturisation technologique. Ces problèmes concernent en particulier la dissipation de puissance, le rendement paramétrique (affecté par la...
| Main Author: | |
|---|---|
| Other Authors: | |
| Language: | fr |
| Published: |
2013
|
| Subjects: | |
| Online Access: | http://www.theses.fr/2013GRENT030 |