Méthodes d'analyse et techniques d'amélioration de fiabilité pour les circuits numériques
Au cours des dernières années, un développement continu a été observé dans les domaines des systèmes électroniques et des ordinateurs. Une série de mécanismes menaçant la fiabilité ont émergé. Par exemple, des défauts physiques provenant de fils mal lithographié, vias et d'autres dispositifs d...
Main Author: | Nascimento Pagliarini, Samuel |
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Other Authors: | Paris, ENST |
Language: | en fr |
Published: |
2013
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Subjects: | |
Online Access: | http://www.theses.fr/2013ENST0060/document |
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