Développement d’un outil de prédiction du comportement d’un circuit intégré sous impact laser en technologie CMOS
Ce travail porte sur l’analyse et l’étude du comportement de circuits intégrés en technologie CMOS soumis à un impact laser. Une méthodologie d’implémentation d’un impact laser a été développée et améliorée. Ainsi, elle est applicable à n’importe quelle description électrique d’un circuit CMOS, qu’i...
| Main Author: | |
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| Other Authors: | |
| Language: | fr |
| Published: |
2013
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| Subjects: | |
| Online Access: | http://www.theses.fr/2013BOR15209/document |