Développement d’un outil de prédiction du comportement d’un circuit intégré sous impact laser en technologie CMOS

Développement d’un outil de prédiction du comportement d’un circuit intégré sous impact laser en technologie CMOS

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Ce travail porte sur l’analyse et l’étude du comportement de circuits intégrés en technologie CMOS soumis à un impact laser. Une méthodologie d’implémentation d’un impact laser a été développée et améliorée. Ainsi, elle est applicable à n’importe quelle description électrique d’un circuit CMOS, qu’i...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Godlewski, Catherine
Other Authors: Bordeaux 1
Language:fr
Published: 2013
Subjects:
Interaction laser-silicium
Laser
Modélisation électrique
Flot d'intégration
Méthodologie
Fautes fonctionnelles
Fautes comportementales
Cmos
Prédiction du comportement
Photocourant
Potentiel photoélectrique
Laser-Silicon Interaction
Electrical Modelling
Integration flow
Methodology
Functional failure
Behaviour failure
Behaviour prediction
Photocurrent
Photoelectrical potential
Online Access:http://www.theses.fr/2013BOR15209/document

Internet

http://www.theses.fr/2013BOR15209/document

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