Caractérisation et modélisation des performances hautes fréquences des réseaux d'interconnexions de circuits avancés 3D : application à la réalisation d'imageurs de nouvelle génération
Le travail de doctorat réalisé s'attache à étudier les nouveaux types d'interconnexions comme les TSV (Through Silicon Via), les lignes de redistribution (RDL) et les piliers de cuivre (Cu-Pillar) présentes dans le domaine de l'intégration 3D en microélectronique avancée, par exemple...
Main Author: | Fourneaud, Ludovic |
---|---|
Other Authors: | Grenoble |
Language: | fr |
Published: |
2012
|
Subjects: | |
Online Access: | http://www.theses.fr/2012GRENT071/document |
Similar Items
-
Caractérisation et modélisation des performances hautes fréquences des réseaux d'interconnexions de circuits avancés 3D : application à la réalisation d'imageurs de nouvelle génération
by: Fourneaud, Ludovic
Published: (2012) -
3D-IC Technology Characterization and Test Chip Design
Published: (2013) -
Test and Debug Solutions for 3D-Stacked Integrated Circuits
by: Deutsch, Sergej
Published: (2015) -
TSV-Defect Modeling, Detection and Diagnosis Based on 3-D Full Wave Simulation and Parametric Measurement
by: Xu Fang, et al.
Published: (2018-01-01) -
Effets thermiques dans les empilements 3d de puces électroniques : études numériques et expérimentales
by: Souare, Papa Momar
Published: (2014)