Analyse des mécanismes de défaillance dans les transistors de puissance radiofréquences HEMT AlGaN/GaN

Les HEMT AlGaN/GaN sont en passe de devenir incontournables dans le monde de l'amplification de puissance radiofréquence, grâce à leurs performances exceptionnelles. Cependant,en raison de la relative jeunesse de cette technologie, des études de fiabilité dans plusieurs modes de fonctionnement...

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Bibliographic Details
Main Author: Fonder, Jean-Baptiste
Other Authors: Cergy-Pontoise
Language:fr
Published: 2012
Subjects:
Online Access:http://www.theses.fr/2012CERG0576/document