Développement et applications de techniques laser impulsionnelles pour l'analyse de défaillance des circuits intégrés
Les techniques de localisation de défauts basées sur la stimulation laser restent aujourd'hui les techniques parmi les plus avancées qui existent. Elles permettent la stimulation thermique ou photoélectrique de façon très localisée sans contact physique. Les travaux dans ce mémoire sont consacr...
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| Language: | fr |
| Published: |
2012
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| Online Access: | http://www.theses.fr/2012BOR14677/document |