Simulation, réalisation et caractérisation de jonction p+n en SiC-4H, pour la photodétection de rayonnement UV
Le SiC est un matériau semi-conducteur à large bande d'énergie interdite dont les très bonnes caractéristiques électriques et thermiques en font un candidat idéal pour la fabrication de composants dans le domaine de la puissance et des détecteurs de rayonnement. En particulier, la réalisation d...
Main Author: | Biondo, Stéphane |
---|---|
Other Authors: | Aix-Marseille |
Language: | fr |
Published: |
2012
|
Subjects: | |
Online Access: | http://www.theses.fr/2012AIXM4340 |
Similar Items
-
UV-VIS-NIR Communication with a-SiC:H Tandem Device
by: Vitor Silva, et al.
Published: (2015-02-01) -
Activation des dopants implantés dans le carbure de silicium (3C-SiC et 4H-SiC)
by: Song, Xi
Published: (2012) -
An Improved 4H-SiC MESFET with a Partially Low Doped Channel
by: Hujun Jia, et al.
Published: (2019-08-01) -
Extended Hückel Semi-Empirical Approach as an Efficient Method for Structural Defects Analysis in 4H-SiC
by: Janusz Wozny, et al.
Published: (2021-03-01) -
Etude d'interrupteurs en carbure de silicium et potentiel d'utilisation dans des applications aéronautiques
by: Othman, Dhouha
Published: (2015)