Développement d’un banc de thermographie infrarouge pour l’analyse in-situ de la fiabilité des microsystèmes
Au cours des dernières années, l’essor spectaculaire des microsystèmes (ou MEMS), qui touche tous les domaines industriels, est à l’origine de nombreux et nouveaux progrès technologiques. Néanmoins, dans ce contexte prometteur de large envergure, la fiabilité des MEMS s’avère être la problématique à...
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| Language: | fr |
| Published: |
2011
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| Online Access: | http://www.theses.fr/2011EMSE0600/document |