Development of magnetic microscopy techniques for failure localization on three-dimensional circuits
Dans ce travail, de nouveaux développements sur les techniques de localisation des composants électroniques en trois dimensions sont montrés. Ces développements sont réalisés grâce à l'introduction de simulations pour une technique déjà existante: la Microscopie Magnétique (MM). Dans la premièr...
| Main Author: | |
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| Other Authors: | |
| Language: | en |
| Published: |
2011
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| Online Access: | http://www.theses.fr/2011BOR14394/document |