Étude de propriétés électroniques de nanostructures par microscopie à force atomique sous ultra-vide
Cette thèse est consacrée à l’étude des propriétés électroniques de nanostructures par microscopie à force atomique (AFM) en ultra-vide. La première partie de ce travail a consisté à caractériser localement des nanofils de silicium et germanium par technique d’AFM conducteur. Les expériences de cond...
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| Language: | en |
| Published: |
2009
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| Online Access: | http://www.theses.fr/2009LIL10157/document |