Transport électronique couplé à la microscopie en champ proche des transistors à nanotube de carbone : application à la détection de charges

Le but de cette thèse est de caractériser des transistors à nanotube de carbone (CNTFETs) par des mesures de transport couplées aux techniques électriques dérivées de la microscopie à force atomique (microscopie à force électrostatique et microscopie à sonde de Kelvin). Ici, les CNTFETs sont utilisé...

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Bibliographic Details
Main Author: Brunel, David
Other Authors: Lille 1
Language:fr
en
Published: 2008
Subjects:
Online Access:http://www.theses.fr/2008LIL10142/document