[en] ANALYSIS OF THE CHARACTERISTICS OF THE TRANSMISSION IN DIELECTRIC

• Main Author: MARCOS CORREA DE ALBUQUERQUE
• Other Authors: MARIA CRISTINA RIBEIRO CARVALHO
• Language: pt
• Published: MAXWELL 2007
• Subjects: [pt] MICRO-ONDAS; [en] MICROWAVES; [pt] ESTRUTURAS MICROSTRIP; [en] MICROSTRIP STRUCTURES
• Online Access: https://www.maxwell.vrac.puc-rio.br/Busca_etds.php?strSecao=resultado&nrSeq=9495@1; https://www.maxwell.vrac.puc-rio.br/Busca_etds.php?strSecao=resultado&nrSeq=9495@2; http://doi.org/10.17771/PUCRio.acad.9495

[pt] Neste trabalho é feita uma análise das características de transmissão de estruturas microstrip blindadas e contendo várias camadas de dielétrico. O problema é formulado em termos de uma representação rigorosa de modos híbridos, superposição de modos TE e TM. A equação característica para as propriedades de dispersão dessas linhas é obtida pela aplicação da técnica da matriz de transferência da estrutura em associação com o método de Galerkin no domínio espectral. As principais vantagens do método são sua simplicidade e convergência rápida, permitindo a caracterização dos modos fundamental e de ordem superior. São apresentados resultados teóricos e práticos para linhas isoladas acopladas e ressoadores lineares, comparando-se com outros autores. Os efeitos de metalização, perdas e descontinuidades são também considerados. === [en] A hybrid mode analysis is presented for a multilayer dielectric within a rectangular conducting box. An arbitrary set of planar conductors may be distributed along one of the surfaces. The problem is formulated in terms of a rigorous hybrid-mode representation, superposition of TE and TM fields. The analysis combines a transfer-matrix approach with Galerkin´s method in the spectral domain to give a characteristic equation for the dispersion properties of the lines. Among the advantages of the method are its simplicity and rapid convergence, allowing a characterization of the fundamental and higher order modes. Theoretical and practical results are presented, for single/coupled lines and linear resonators, and they are compared with the results presented by other authors. The effects due to metallization, loss and discontinuities are also considered.