[en] GLASS ELECTROTHERMAL POLING AND CHARACTERIZATION TECHNIQUES
[pt] É possível criar uma não-linearidade de segunda ordem em amostras de sílica a partir do processo de polarização. Essas amostras vítreas com o X(2) induzido potencialmente podem ser utilizadas na fabricação de componentes como moduladores ópticos e dobradores de freqüência. O processo de p...
| Main Author: | |
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| Other Authors: | |
| Language: | pt |
| Published: |
MAXWELL
2004
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| Subjects: | |
| Online Access: | https://www.maxwell.vrac.puc-rio.br/Busca_etds.php?strSecao=resultado&nrSeq=5435@1 https://www.maxwell.vrac.puc-rio.br/Busca_etds.php?strSecao=resultado&nrSeq=5435@2 http://doi.org/10.17771/PUCRio.acad.5435 |
| Summary: | [pt] É possível criar uma não-linearidade de segunda ordem em
amostras de sílica a partir do processo de polarização.
Essas amostras vítreas com o X(2) induzido potencialmente
podem ser utilizadas na fabricação de componentes como
moduladores ópticos e dobradores de freqüência. O
processo
de polarização eletrotérmica utiliza alta tensão e alta
temperatura e forma uma região de depleção de íons
(camada
de depleção) onde um campo elétrico intenso é gravado de
forma permanente dentro da amostra. Neste trabalho, foram
utilizadas diferentes técnicas de caracterização para
medir
a extensão dessa camada e os resultados foram comparados.
As técnicas escolhidas foram: Ataque Químico
Interferométrico (com ácido fluorídrico), Maker Fringe,
Microscopia Óptica e de Força Atômica e Ataque
Interferométrico com Medida de Segundo Harmônico em Tempo
Real. Além disso, foram feitos alguns estudos paralelos
visando à otimização e a reprodutibilidade do processo de
polarização. Foram realizadas dessa forma análises sobre
o
material dos eletrodos utilizados e sobre a influência da
condição inicial da superfície da amostra antes da
polarização. === [en] It is possible to create a second order non linearity in
silica samples with the poling process. The glass samples
with an induced X(2) have a potential application on the
fabrication of optical devices such as modulators and
frequency converters. In the electrothermal poling process,
high voltage and high temperature are applied to the
samples forming an ion depleted region (depletion layer),
where an intense electric field is permanently recorded. In
this work, several characterization techniques have been
utilized to measure the width of the depletion layer and
compared the obtained results. The chosen techniques were:
Interferometric Etching, Maker Fringe, Optical and Atomic
Force Microscopy and the Interferometric Etching with Real
Time Second Harmonic Measurement. In addition to this, we
performed other studies aiming the optimization and
reproducibility of the poling process. In this way, we
analyzed the material used for the electrodes and the
influence of the initial condition of the sample surface
before poling.
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