Biasoidun impedanssispektroskopian mittausohjelmisto pietsosähköisille materiaaleille

Tässä työssä tutustuttiin pietsosähköisyyteen sekä pietsosähköisiin keraameihin. Käytännön osuudessa suunniteltiin ja toteutettiin National Instruments:in LabVIEW ympäristöön mittausohjelmisto, jolla pystytään GPIB-väylän kautta ohjaamaan piirianalysaattoria ja jännitevahvistinta sekä laskemaan aut...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Kaarteenaho, A. (Armi)
Format: Others
Language:Finnish
Published: University of Oulu 2016
Subjects:
Online Access:http://urn.fi/URN:NBN:fi:oulu-201605041620
http://nbn-resolving.de/urn:nbn:fi:oulu-201605041620

Similar Items