バイアス温度不安定性とランダムテレグラフノイズがCMOS論理回路特性に及ぼす影響

バイアス温度不安定性とランダムテレグラフノイズがCMOS論理回路特性に及ぼす影響

Kyoto University (京都大学) === 0048 === 新制・課程博士 === 博士(情報学) === 甲第19137号 === 情博第583号 === 新制||情||102 === 32088 === 京都大学大学院情報学研究科通信情報システム専攻 === (主査)教授 小野寺 秀俊, 教授 髙木 直史, 教授 佐藤 高史 === 学位規則第4条第1項該当...

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Bibliographic Details
Main Author: 松本, 高士
Other Authors: 小野寺, 秀俊
Format: Others
Language:Japanese
Published: Kyoto University 2015
Subjects:
CMOS
NBTI
RTN
combinational circuit
gate oxide
reliability
noise
007
Online Access:http://hdl.handle.net/2433/199558
id ndltd-kyoto-u.ac.jp-oai-repository.kulib.kyoto-u.ac.jp-2433-199558
record_format oai_dc
spelling ndltd-kyoto-u.ac.jp-oai-repository.kulib.kyoto-u.ac.jp-2433-1995582015-11-26T16:01:51Z バイアス温度不安定性とランダムテレグラフノイズがCMOS論理回路特性に及ぼす影響 Impact of Bias Temperature Instability and Random Telegraph Noise on CMOS Logic Circuits 松本, 高士 小野寺, 秀俊 髙木, 直史 佐藤, 高史 Matsumoto, Takashi マツモト, タカシ CMOS NBTI RTN combinational circuit gate oxide reliability noise 007 Kyoto University (京都大学) 0048 新制・課程博士 博士(情報学) 甲第19137号 情博第583号 新制||情||102 32088 京都大学大学院情報学研究科通信情報システム専攻 (主査)教授 小野寺 秀俊, 教授 髙木 直史, 教授 佐藤 高史 学位規則第4条第1項該当 2015-08-14T08:05:35Z 2015-08-14T08:05:35Z 2015-03-23 2015-03-23 DFAM Thesis or Dissertation http://hdl.handle.net/2433/199558 14301甲第19137号 jpn 許諾条件により本文は2016/03/22に公開 ©2012 IEEE, ©2013 IEEE, ©2014 IEEE, ©2011 Japan Soc. App. Phys., ©2012 Japan Soc. App. Phys., ©2013 Japan Soc. App. Phys. application/pdf Kyoto University 京都大学 201503474 none
collection NDLTD
language Japanese
format Others
sources NDLTD
topic CMOS
NBTI
RTN
combinational circuit
gate oxide
reliability
noise
007
spellingShingle CMOS
NBTI
RTN
combinational circuit
gate oxide
reliability
noise
007
松本, 高士
バイアス温度不安定性とランダムテレグラフノイズがCMOS論理回路特性に及ぼす影響
description Kyoto University (京都大学) === 0048 === 新制・課程博士 === 博士(情報学) === 甲第19137号 === 情博第583号 === 新制||情||102 === 32088 === 京都大学大学院情報学研究科通信情報システム専攻 === (主査)教授 小野寺 秀俊, 教授 髙木 直史, 教授 佐藤 高史 === 学位規則第4条第1項該当
author2 小野寺, 秀俊
author_facet 小野寺, 秀俊
松本, 高士
author 松本, 高士
author_sort 松本, 高士
title バイアス温度不安定性とランダムテレグラフノイズがCMOS論理回路特性に及ぼす影響
title_short バイアス温度不安定性とランダムテレグラフノイズがCMOS論理回路特性に及ぼす影響
title_full バイアス温度不安定性とランダムテレグラフノイズがCMOS論理回路特性に及ぼす影響
title_fullStr バイアス温度不安定性とランダムテレグラフノイズがCMOS論理回路特性に及ぼす影響
title_full_unstemmed バイアス温度不安定性とランダムテレグラフノイズがCMOS論理回路特性に及ぼす影響
title_sort バイアス温度不安定性とランダムテレグラフノイズがcmos論理回路特性に及ぼす影響
publisher Kyoto University
publishDate 2015
url http://hdl.handle.net/2433/199558
work_keys_str_mv AT sōngběngāoshì baiasuwēndùbùāndìngxìngtorandamuteregurafunoizugacmoslùnlǐhuílùtèxìngnijíbosuyǐngxiǎng
AT sōngběngāoshì impactofbiastemperatureinstabilityandrandomtelegraphnoiseoncmoslogiccircuits
_version_ 1718136782990606336

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