A study of wear-out and breakdown phenomena in thin silicon dioxide films and the evaluation techniques
Kyoto University (京都大学) === 0048 === 新制・論文博士 === 博士(工学) === 乙第11362号 === 論工博第3764号 === 新制||工||1300(附属図書館) === UT51-2004-C110 === (主査)教授 藤本 孝, 教授 藤田 靜雄, 教授 立花 明知 === 学位規則第4条第2項該当
| Main Author: | |
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| Other Authors: | |
| Format: | Others |
| Language: | English |
| Published: |
京都大学 (Kyoto University)
2011
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| Subjects: | |
| Online Access: | http://hdl.handle.net/2433/148307 |