The Influence of Valid and In-force Patents in Patentometrics

The Influence of Valid and In-force Patents in Patentometrics

博士 === 國立臺灣大學 === 圖書資訊學研究所 === 105

Bibliographic Details
Main Authors: Huei-Ru Dong, 董蕙茹
Other Authors: Mu-hsuan Huang
Format: Others
Language:zh-TW
Published: 2017
Online Access:http://ndltd.ncl.edu.tw/handle/2t6u4a
Description
Summary:博士 === 國立臺灣大學 === 圖書資訊學研究所 === 105

Similar Items