Low-Frequency Noise Characterization of Advanced Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect-Transistors

博士 === 國立清華大學 === 電子工程研究所 === 99

Bibliographic Details
Main Authors: Chen, Yu-Ting, 陳育廷
Other Authors: 葉鳳生
Format: Others
Language:en_US
Published: 2011
Online Access:http://ndltd.ncl.edu.tw/handle/78427439770008088723
Description
Summary:博士 === 國立清華大學 === 電子工程研究所 === 99